超高精度光学坐标测量仪μCMM：
极高精度测量公差非常小的部件
μCMM是同类产品中最精确的纯光学微坐标测量系统。
用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势结合起来，只用一个传感器测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。
μCMM提供了更高几何精度的光学三维测量，能够测量大部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量的相对位置。
可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。
材料从哑光到抛光各种反光成分都可以测量。
操作简单是通过单按钮解决方案，有一个集自动化和人体工程学控制元素特别设计的控制器。
带线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、以及更快速测量。这也使得μCMM非常适合在生产中永久使用。
第一台纯光学高精度3D CMM，结合多种量测设备，可应用在所有量测领域
简单易操作的控制器完成复杂的自动化检测
取得高精度、高质量的点云资料，可满足尺寸、GD&T和粗糙度等检测需求
光学镜头结合SmartFlash 2.0技术，使uCMM拥有高适应性，可应用在镜面的表面量测
量测功能-轮廓检测
结构上任意切面
量测角度、长度、内切圆、外接圆等信息
型位公差偏差量测
可与CAD进行比对
公差及GD&T的分析
在2D数据上建立结构并量测尺寸
与Gom Inspect连动，进行全尺寸量测
量测功能 – 粗糙度量测
线粗糙度基础参数(Ra,Rq,Rz)
线粗糙度进阶参数(Rp,Rv,Rc,Rsm...)
面粗糙度基础参数(Sa,Sq,Sz…)
面粗糙度进阶参数(Sk,Spk,Svk…)
