MarSurf CM expert

高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert 是强大的可配置型共焦显微镜，用于表面的三维测量和分析 - 无接触，不受材料影响，而且速度快。

高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 
额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化，使其有优异的易用性。 

典型测量任务

• 粗糙度测量符合
  ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

• 表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）

• 轮廓和形状 (2D, 3D)

• 孔，颗粒分析

• 缺陷检测

最高数据质量

我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录，可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、过程设计和质量控制领域的定量测量值等。

全新版本的MarSurf CM explorer是表面精密三维测量和分析的全方位解决方案系统。该设备适合实验室环境以及生产环境中使用，只需要简单几个步骤，就能轻松提供可靠3D测量。

●测量速度快，即使全分辨率扫描
●人性化设计理念
●防碰撞检测系统使得测量更加安全
●16位高动态范围功能
●高清拼接-即使大范围测量始终高分辨率
相关应用：对材料/产品/工件做表面非接触式三维形貌扫描，分析2D/3D表面形貌、轮廓几何尺寸（长度、宽度、深度、角度、面积、体积等）、表面粗糙度、平整度、翘曲、曲率、面形精度、摩擦磨损及腐蚀等参数指标。