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粗糙度轮廓仪 MarSurf VD 140

粗糙度轮廓仪 MarSurf VD 140

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产品详情

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应用场景

新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供最高速度和灵活性的精密产品。
操作周期改善 65 %,是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性(甚至高达 80 kg)和简单的固定系统。它还支持可重复性,因此有高精度。
MarSurf VD 有一个独特的功能,就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统,即可完成高度准确的粗糙度测量。


一个平台,很多优势

MarSurf 系列的所有机器都在通用平台上运行。

  • 高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间

  • 创新的固定系统,安装和更换简单快速

  • 磁性底板,无需工具便可快速更换测杆

  • 宽敞的支撑板和大测量范围:测量大型工件的理想选择

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更换测针系统无需工具

优化的测针系统,一个测量站即可实现高精度的粗糙度和轮廓测量:

  • 运行过程中更换,减少更换时间

  • 可以使用轮廓测针系统测量粗糙度,同时有很高的测量范围

  • 数字接口,安全性高

  • 更换测针系统,保证高准确度的粗糙度测量


测量快速且简单

简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。使用了高速测轴和新测针系统,测量本身的速度可提高 65%(示例为在销上测量)。

整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。这有助于进一步降低工艺成本。



产品特性

新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供最高速度和灵活性的精密产品。
操作周期改善 65 %,是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性(甚至高达 80 kg)和简单的固定系统。它还支持可重复性,因此有高精度。
MarSurf VD 有一个独特的功能,就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统,即可完成高度准确的粗糙度测量。

技术规格
MarSurf VD 140 | Art.-Nr. 6269020
分辨率with roughness probe system:
Measuring range 1: 7.6 nm
Measuring range 2: 0.76 nm

with contour probe system:
max. 6 nm (with 210 mm probe arm)
测杆长度with roughness probe system:
45 mm to 135 mm

with contour probe system:
210 mm to 490 mm
导块偏差0.07 μm / 20 mm(带测头系统 BFW 250)
0.35 μm / 60 mm
0.4 μm / 140 mm
测量速度最高 10 mm/s
扫描长度末尾(X 方向)140 mm
定位速度0.02 - 200 mm/s (X)
测头Roughness probe system (skidless)
Contour probe system
测量范围 mm带测头系统 BFW 250
500 μm (±250 μm),用于 45 mm 测针长度
1500 μm (±750 μm),用于 135 mm 测针长度

带测头系统 C 11
70 mm,测杆长 350 mm
最高 100 mm,测杆长 490 mm
扫描长度0.1 mm to 140 mm
测量力 (N)with roughness probe system:
0.7 mN

4 mN to 30 mN, adjustable via software


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